Fultz, Brent; Howe, James M.

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

$Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials$

Verlag: Springer, Berlin
Erscheinungsdatum: 2007-10-11
Bindung: Gebundene Ausgabe
Seitenzahl: 758
ISBN: 3540738851
EAN: 9783540738855
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Beschreibung von buecher.de

Designed to meet the needs of materials scientists, including students, teachers and researchers. It can be used as both an introductory and advanced level graduate text. Chapters are sorted according to difficulty and grouped for use in quarter and semester courses. Problems for the student are appended to each chapter.

$Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials$