Fultz, Brent; Howe, James M.

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
  • Verlag: Springer, Berlin
  • Erscheinungsdatum: 2007-10-11
  • Bindung: Gebundene Ausgabe
  • Seitenzahl: 758
  • ISBN: 3540738851
  • EAN: 9783540738855
  • Amazon.de Verkaufsrang: 1.058.258
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Beschreibung von buecher.de

Designed to meet the needs of materials scientists, including students, teachers and researchers. It can be used as both an introductory and advanced level graduate text. Chapters are sorted according to difficulty and grouped for use in quarter and semester courses. Problems for the student are appended to each chapter.

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

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