Strahlenresistenz

Die Strahlenresistenz (oder Strahlenhärte) beschreibt die relative Unempfindlichkeit eines organischen oder anorganischen Materials gegenüber Strahlungseinwirkung. Die Strahlenresistenz spielt z. B. eine Rolle bei technischen Bauteilen, die in einem besonderen Strahlungsfeld (bspw. im Weltraum oder in kerntechnischen Anlagen) zur Anwendung kommen und deren Funktionsweise sich aufgrund der Einwirkung von Strahlung ändert. So werden in Experimenten der Elementarteilchen- und Kernphysik häufig Szintillatoren und Lichtleiter (vielfach aus polymeren Materialien), sowie Halbleiterbauelemente (bspw. Silicon on Sapphire) als Nachweismaterialien verwendet, die die erste Stufe bei der Umwandlung von Eigenschaften hochenergetischer Teilchen in apparativ messbare elektrische Signale bilden. Die Wechselwirkung mit Strahlung kann in Abhängigkeit von der Art, der Intensität und der Dauer der Strahlungseinwirkung zu Veränderungen der Funktionsweise der technischen Bauteile führen, weshalb die genaue Kenntnis der Strahlenresistenz eine Voraussetzung ist für ihren erfolgreichen Einsatz in diesen Experimenten. Neben den Untersuchungen zur Strahlenresistenz bei technischen Anwendungen in besonderen Strahlungsfeldern hat die Strahlenresistenz eine besondere Bedeutung in der Biologie und der Medizin, bspw. bei dem Verständnis von energiereicher Strahlungseinwirkung auf chemische, biologische Substrate und Mikroorganismen (siehe z. B. Deinococcus radiodurans), oder auf den biologischen Organismus, insbesondere mit Blick auf medizinische Anwendungen, wie z. B. in der Radiologie.


Siehe auch

Literatur

  • B. Bicken, U.Holm, T. Marckmann, K.Wick, M. Rohde, „Recovery and permanent radiation damage of plastic scintillators at different dose rates”, IEEE Trans. Nucl. Sc. 38 (1991) 188-193.
  • I. Bohnet, D. Kummerow, K.Wick, „Influence of radiation damage on the performance of a lead/scintillator calorimeter investigated with 1-6 GeV electrons”, ISSN 0168-9002 Nucl. Instr. and Meth., A490 (2002) 90-100.
  • E. Fretwurst et al., “Radiation Hardness of Silicon Detectors for Future Colliders”, Nucl. Instr. and Meth., A326 (1993) 357ff.

Weblinks

Quelle:
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